介質(zhì)損耗測(cè)試儀詳細(xì)簡(jiǎn)介 一、概況 SX介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。SX介質(zhì)損耗測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗力強(qiáng)， 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)，SX介質(zhì)損耗測(cè)試儀是第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。 二、技術(shù)指標(biāo) 1、環(huán)境：-5℃～40℃(液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照) 2、相對(duì)濕度：30%～70% 3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz 4、外形尺寸：長(zhǎng)*寬*高=440mm*295mm*360mm 5、重量：22.5kg 6、輸出功率：1.5KVA 7、顯示分辨率：3位、4位(內(nèi)部全是6位) 8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接試驗(yàn)電壓法 9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF(10KV電壓大于30000PF) 外接試驗(yàn)電壓：由外接試驗(yàn)變壓器輸出功率而定 10、基本測(cè)量誤差： 介質(zhì)損耗(tgδ)：1%±0.04% 電容容量(Cx)：1%±1pF |
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